摘要
雷电瞬态电磁脉冲(LEMP)是一种由雷电放电过程产生的宽带、高强度的电磁辐射现象，对电子设备和电力系统等构成严重威胁。
为了评估LEMP的影响并开展防护研究，研制高性能的LEMP辐射源至关重要。
本文综述了LEMP辐射源的研究现状，首先介绍了LEMP的基本概念、产生机制和辐射特性，然后重点阐述了LEMP辐射源的设计方法、关键技术和研究进展，包括脉冲发生器、天线和接地系统等方面，并对不同类型辐射源的优缺点进行了比较分析。
最后，展望了LEMP辐射源的未来发展趋势，指出提高辐射场强、拓展频带范围和实现标准化测试是未来研究的重点方向。
关键词：雷电瞬态电磁脉冲；辐射源；脉冲发生器；天线；接地系统
随着现代电子技术的快速发展，各种电子设备和系统日益复杂，集成度越来越高，但同时也变得更加容易受到电磁干扰的影响。
雷电活动是自然界中最常见的也是最具破坏力的电磁干扰源之一，其产生的雷电瞬态电磁脉冲（LightningElectromagneticPulse，LEMP）具有极高的电压、电流和上升沿，能量分布范围广，可通过空间辐射、传导耦合等方式对电子设备和系统造成严重干扰甚至损坏，例如导致数据丢失、设备误动作、甚至系统瘫痪等，尤其是在航空航天、电力通信、国防安全等领域，LEMP的影响更加突出。
为了有效评估LEMP对电子设备和系统的潜在影响，并提出相应的防护措施，需要对LEMP的特性进行深入研究。
而研制能够模拟真实LEMP环境的辐射源是进行LEMP效应研究和防护技术研究的基础。
因此，LEMP辐射源的研制一直是国内外学者关注的焦点，并在近年来取得了显著进展。
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